Product

China Multi-spot Beam Profiler-fabrikant FSA500

Een meetanalysator voor het analyseren en meten van optische parameters van bundels en gefocusseerde plekken.Het bestaat uit een optische richteenheid, een optische verzwakkingseenheid, een warmtebehandelingseenheid en een optische beeldeenheid.Het is ook uitgerust met softwareanalysemogelijkheden en biedt testrapporten.


  • Model:FSA500
  • Golflengte:300-1100 nm
  • Stroom:Maximaal 500W
  • Merknaam:CARMAN HAAS
  • Product detail

    Productlabels

    Instrumentbeschrijving:

    Een meetanalysator voor het analyseren en meten van optische parameters van bundels en gefocusseerde plekken.Het bestaat uit een optische richteenheid, een optische verzwakkingseenheid, een warmtebehandelingseenheid en een optische beeldeenheid.Het is ook uitgerust met softwareanalysemogelijkheden en biedt testrapporten.

    Instrumenteigenschappen:

    (1) Dynamische analyse van verschillende indicatoren (energieverdeling, piekvermogen, ellipticiteit, M2, spotgrootte) binnen het scherptedieptebereik;

    (2) Breed golflengtebereik van UV tot IR (190 nm-1550 nm);

    (3) Multi-spot, kwantitatief, eenvoudig te bedienen;

    (4) Hoge schadedrempel tot 500 W gemiddeld vermogen;

    (5) Ultrahoge resolutie tot 2,2um.

    Instrumenttoepassing:

    Voor het meten van parameters met één of meerdere bundels en bundelfocussering.

    Instrumentspecificatie:

    Model

    FSA500

    Golflengte (NM)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Ingang pupilpositie spotdiameter (mm)

    ≤17

    Gemiddeld vermogen(W)

    1-500

    Lichtgevoelige maat (mm)

    5,7x4,3

    Meetbare vlekdiameter (mm)

    0,02-4,3

    Framesnelheid (fps)

    14

    Connector

    USB 3.0

    Instrumenttoepassing:

    Het golflengtebereik van de testbare straal is 300-1100 nm, het gemiddelde straalvermogensbereik is 1-500 W, en de diameter van de te meten gefocusseerde plek varieert van minimaal 20 μm tot 4,3 mm.

    Tijdens gebruik verplaatst de gebruiker de module of lichtbron om de beste testpositie te vinden en gebruikt vervolgens de ingebouwde software van het systeem voor het meten en analyseren van gegevens.De software kan het tweedimensionale of driedimensionale aanpassingsdiagram van de intensiteitsverdeling van de dwarsdoorsnede van de lichtvlek weergeven, en kan ook kwantitatieve gegevens weergeven zoals de grootte, ellipticiteit, relatieve positie en intensiteit van de lichtvlek in de twee -dimensionale richting.Tegelijkertijd kan de straal M2 handmatig worden gemeten.

    j

    Structuurgrootte

    J

  • Vorig:
  • Volgende:

  • gerelateerde producten