Product

Chinese fabrikant van multi-spot beam profilers FSA500

Een meetanalysator voor het analyseren en meten van optische parameters van bundels en gefocusseerde punten. De analysator bestaat uit een optische aanwijseenheid, een optische verzwakkingseenheid, een warmtebehandelingseenheid en een optische beeldvormingseenheid. De analysator is tevens uitgerust met software voor analyse en levert testrapporten.


  • Model:FSA500
  • Golflengte:300-1100nm
  • Stroom:Maximaal 500W
  • Merknaam:CARMAN HAAS
  • Productdetails

    Productlabels

    Beschrijving van het instrument:

    Een meetanalysator voor het analyseren en meten van optische parameters van bundels en gefocusseerde punten. De analysator bestaat uit een optische aanwijseenheid, een optische verzwakkingseenheid, een warmtebehandelingseenheid en een optische beeldvormingseenheid. De analysator is tevens uitgerust met software voor analyse en levert testrapporten.

    Kenmerken van het instrument:

    (1) Dynamische analyse van verschillende indicatoren (energieverdeling, piekvermogen, elasticiteit, M2, spotgrootte) binnen het scherptedieptebereik;

    (2) Breed golflengtebereik van UV tot IR (190 nm-1550 nm);

    (3) Multi-spot, kwantitatief, eenvoudig te bedienen;

    (4) Hoge schadegrens tot gemiddeld vermogen van 500 W;

    (5) Ultrahoge resolutie tot 2,2 µm.

    Instrumenttoepassing:

    Voor het meten van parameters met één of meerdere stralen en met focussering van de stralen.

    Instrumentspecificatie:

    Model

    FSA500

    Golflengte (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Ingangspupilpositie spotdiameter (mm)

    ≤17

    Gemiddeld vermogen(W)

    1-500

    Lichtgevoelige afmeting (mm)

    5,7x4,3

    Meetbare vlekdiameter (mm)

    0,02-4,3

    Framesnelheid (fps)

    14

    Verbindingsstuk

    USB 3.0

    Instrumenttoepassing:

    Het golflengtebereik van de testbare straal bedraagt ​​300-1100 nm, het gemiddelde straalvermogen bedraagt ​​1-500 W en de diameter van het te meten punt varieert van minimaal 20 μm tot 4,3 mm.

    Tijdens het gebruik verplaatst de gebruiker de module of lichtbron om de beste testpositie te vinden. Vervolgens gebruikt hij de ingebouwde software van het systeem voor het meten en analyseren van de gegevens.De software kan het tweedimensionale of driedimensionale diagram van de intensiteitsverdeling van de dwarsdoorsnede van de lichtvlek weergeven en kan ook kwantitatieve gegevens weergeven, zoals de grootte, elasticiteit, relatieve positie en intensiteit van de lichtvlek in de tweedimensionale richting. Tegelijkertijd kan de M2-bundel handmatig worden gemeten.

    j

    Structuurgrootte

    J

  • Vorig:
  • Volgende:

  • gerelateerde producten